Beschreibung
El objetivo fundamental del trabajo que se presenta consiste en establecer las características de diversos tipos de rejillas de difracción, a través del estudio de el espectro de difracción que generan y de los patrones de Ronchi característicos de cada uno de ellas. El modelado teórico de las rejillas se lleva acabo aplicando dos enfoques comparativos: uno que considera componentes espaciales para generar el perfil de las rejillas y otro que genera el perfil con componentes frecuenciales. Los resultados obtenidos a través del modelado teórico se llevaran a la práctica mediante la construcción de las rejillas simuladas, impresas sobre acetato corriente desde una impresora láser. La caracterización de las rejillas mediante el modelado teórico de las rejillas y de los patrones de Ronchi junto con la validación experimental es el objetivo más importante de este trabajo, quedando como objetivo secundario pero no menos importante algunas aplicaciones de las rejillas construidas.
Autorenportrait
Laboratorio de Óptica Física, FCFM-BUAP,Pue. México. Líneas de Investigación: Interferometría Dinámica con Luz Blanca, en Espiral. Información Relevante (Últimos 3 años): 10 Artículos Publicados. 4 Capítulos en Libros. 3 Premios Nacionales de Ciencia y Tecnología. 2 Medallas a la innovación (IMPI). Candidato a SNI.
