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Reliability studies of GaN High Electron Mobility Transistors.

Science for systems 22

Ambacher, Oliver / IAF Freiburg, /
Erschienen am 01.06.2015
CHF 53,55
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Bibliografische Daten
ISBN/EAN: 9783839608975
Sprache: Englisch
Umfang: 172
Auflage: 1. Auflage

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