Beschreibung
Inhaltsangabe1 Einleitung.- 1.1 Das Testproblem für hochintegrierte Schaltungen.- 1.2 Teststrategien.- 1.3 Zum Aufbau des Buches.- 2 Technologische Grundlagen.- 2.1 Fertigungsprozesse und Fehlermechanismen.- 2.1.1 Bipolare Schaltungen.- 2.1.2 MOS-Techniken.- 2.1.3 Fehlermechanismen.- 2.1.3.1 Punktuelle Defekte.- 2.1.3.2 Systematische Defekte.- 2.1.4 Die Prozeßüherwachung.- 2.1.5 Die Prozeßvalidierung.- 2.2 Ausbeutemodelle.- 2.2.1 Das Poissonmodell.- 2.2.2 Ungleichmäßige Fehlerdichten.- 2.2.3 Das Stapper-Modell.- 2.2.4 Das Produktmodell.- 2.3 Der Test.- 2.3.1 Der Pre-Test.- 2.3.2 Der Prototyp-Test.- 2.3.2.1 Die Schaltungscharakterisierung.- 2.3.2.2 Diagnoseverfahren.- 2.3.3 Der Produktionstest.- 2.3.3.1 Arbeitsschritte beim Produktionstest.- 2.3.3.2 Testgeräte.- 2.4 Die Produktqualität.- 3 Schaltungs- und Fehlermodellierung.- 3.1 Ebenen der Schaltungsmodellierung.- 3.2 Die Layout-Ebene.- 3.2.1 Struktur und Verhalten.- 3.2.2 Induktive Fehleranalyse.- 3.2.2.1 Qualitative Analyse.- 3.2.2.2 Analyse des Verhaltens.- 3.2.2.3 Quantitative Analyse.- 3.3 Die Schalterebene.- 3.4 Die Gatterebene.- 3.4.1 Schaltungsmodellierung als Graph.- 3.4.2 Bauelementefunktionen.- 3.4.3 Fehlermodelle auf Gatterebene.- 3.4.3.1 Das Haftfehlermodell.- 3.4.3.2 Fehlerreduktion.- 3.4.3.3 Komplexe kombinatorische Funktionsfehler.- 3.4.3.4 Übergangsfehler.- 3.4.3.5 Fehler in dynamischen MOS-Schaltungen.- 3.4.3.6 Verzögerungsfehler.- 3.4.3.7 Kurzschlußfehler.- 4 Fehlersimulation.- 4.1 Prinzip der Logiksimulation.- 4.1.1 Simulationsebenen.- 4.1.2 Modellierung des Zeitverhaltens der Schaltglieder.- 4.1.3 Simulationsarten.- 4.1.3.1 Compilierte Simulation.- 4.1.3.2 Tabellengesteuerte Simulation.- 4.1.3.3 Ereignisgesteuerte Simulation.- 4.2 Klassische Verfahren der Fehlersimulation.- 4.2.1 Parallele Fehlersimulation.- 4.2.1.1 Repräsentation der Fehler.- 4.2.1.2 Fehlerinjektion.- 4.2.2 Deduktive Fehlersimulation.- 4.2.2.1 Fehlerlisten.- 4.2.2.2 Listenereignisse.- 4.2.3 Nebenläufige Fehlersimulation.- 4.3 Innovative Simulationsverfahren.- 4.3.1 Fehlererkennung und boolesche Differenzen.- 4.3.2 Gebietsanalyse.- 4.3.3 Parallele Musterbehandlung.- 4.4 Komplexität der Fehlersimulation.- 4.5 Approximative Verfahren.- 4.5.1 Kritische Pfade.- 4.5.2 Pessimistische und optimistische Approximation.- 4.5.3 Parallele Approximation.- 4.5.4 Bewertung großer Testmengen.- 4.6 Simulation von Verzögerungs-und Übergangsfehlern.- 4.6.1 Einfache Verfahren mit paralleler Musterbehandlung.- 4.6.2 Erkennung dynamischer Fehler.- 5 Prüfpfad-Techniken.- 5.1 Synchrone Schaltungen.- 5.1.1 Speichernde Bauelemente.- 5.1.2 Taktschemata.- 5.2 Prüfpfad für flankengesteuerte Elemente.- 5.2.1 Das Prinzip des Prüfpfads.- 5.2.2 Flankengesteuerte Prüfpfadelemente.- 5.3 LSSD: "Level-Sensitive Scan-Design".- 5.3.1 LSSD-gerechte Speicherelemente.- 5.3.2 Die LSSD-Regeln.- 5.3.3 Automatische Regelüberprüfung.- 5.3.4 LSSD-Konfigurationen.- 5.4 Der Prüfbus ("Random Access Scan").- 5.5 "Scan/Set"-Logik.- 5.6 Auswirkungen der Prüfpfadtechnik auf Test und Systemfunktion.- 5.7 Standardisierung.- 5.7.1 Baugruppentest.- 5.7.2 Boundary-Scan.- 5.7.3 Test Access Port.- 6 Der Test mit Zufallsmustern.- 6.1 Test mit linear rückgekoppelten Schieberegistern.- 6.1.1 Mustererzeugung.- 6.1.1.1 Zufallseigenschaften von Musterfolgen.- 6.1.1.2 Algebraische Grundlagen.- 6.1.1.3 Das charakteristische Polynom.- 6.1.1.4 Maximale Schieberegisterfolgen.- 6.1.1.5 Zufallseigenschaften maximaler Schieberegisterfolgen.- 6.1.2 Signaturanalyse.- 6.1.2.1 Testdatenkompression.- 6.1.2.2 Schaltungen zur Polynomdivision.- 6.1.2.3 Serielle Signaturanalyse.- 6.1.2.4 Fehlermaskierungswahrscheinlichkeiten.- 6.1.2.5 Parallele Signaturanalyse.- 6.2 Der Testaufbau.- 6.3 Testlängen.- 6.4 Signalwahrscheinlichkeiten.- 6.4.1 Die Berechnung von Signalwahrscheinlichkeiten.- 6.4.2 Schätzung von Signalwahrscheinlichkeiten.- 6.4.2.1 Statistische Verfahren.- 6.4.2.2 Berechnung von Intervallen.- 6.4.2.3 Analytische Verfahren.- 6.4.2.4 Effiziente Schätzverfahren.- 6.5 Fehlererkenn
