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Physikalische Grundlagen der Elektronenmikroskopie

Angewandte Physik

Erschienen am 01.01.1997
CHF 73,80
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Bibliografische Daten
ISBN/EAN: 9783519032212
Sprache: Deutsch
Umfang: 320
Auflage: 1. Auflage

Beschreibung

Bei der Arbeit vieler Praktiker als Material- oder Werkstoff-Wissenschaftler, als Mineralogen, Chemiker oder Halbleiterphysiker erweist sich die Notwendigkeit, die submikroskopische Struktur der untersuchten Objekte zu kennen. - Die Bedeutung der Elektronenmikroskopie ist hier in ständigem Steigen begriffen, zumal sie neuerdings auch chemische Informationen bis hinab zu atomaren Dimensionen zu liefern vermag. Das vorliegende Buch vermittelt das Verständnis der Transmissions-Elektronenmikroskopie anorganischer (d.h. in der Regel kristalliner) Objekte. Behandelt werden nach den optischen Grundlagen der Beugungskontrast, hochauflösende und analytische Elektronenmikroskopie. Aus dem Inhalt: Eine Einführung in die Transmissions-Elektronenmikroskopie für Studierende der Physik, insbesondere der Festkörperphysik und der Werkstoffwissenschaften. Analogie zwischen Licht- und Elektronenmikroskopie. Wechselwirkung schneller Elektronen mit Materie. Dynamische Theorie der Beugung von Elektronenwellen an kristalliner Materie, Interpretation von Beugungskontrasten. Hochauflösende Elektronenmikroskopie, Chemische Inhomogenitäten, Holographie. Analytische Elektronenmikroskopie.